电镀膜厚仪,镀层测厚仪,光谱测厚仪
江苏一六仪器 x荧光镀层测厚仪 一六仪器、一liu品质!各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎咨询联系!
1x射线激发系统垂直上照式x射线光学系统空冷式微---型x射线管,be窗标准靶材:rh靶;任选靶材:w、mo、ag等功率:50w(4-50kv,0-1.0ma)-标准75w(4-50kv,0-1.5ma)-任选x射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸
2滤光片程控交换系统根据靶材,镀层膜厚仪,标准装备有相应的一次x射线滤光片系统二次x射线滤光片:3个位置程控交换,co、ni、fe、v等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置,电镀测厚仪,防止样品碰创探测器窗口
3准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制多种规格尺寸准直器任选:-圆形,如4、6、8、12、20mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4测量斑点尺寸在12.7mm---距离时,测量斑点尺寸小至为:0.078x0.0---(使用0.025x0.05mm准直器)在12.7mm---距离时,测量斑点尺寸大至为:0.38x0.42mm(使用0.3mm准直器)
5x射线探测系统封气正比计数器装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6样品室cmi900cmi950-样品室结构开槽式样品室开闭式样品室-样品台尺寸610mmx610mm300mmx300mm-xy轴程控移动范围标准:152.4x177.8mm任选:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-z轴程控移动高度43.18mmxyz程控时,152.4mmxy轴手动时,测厚仪,269.2mm-xyz三轴控制方式多种控制方式任选:xyz三轴程序控制、xy轴手动控制和z轴程序控制、xyz三轴手动控制
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:
1.磁性测厚法
适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法
适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法
目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,膜厚测试仪,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。
4.电解测厚法
此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。
5.测厚法
此种仪器价格昂贵,适用于一些特殊场合。
江苏一六仪器 x荧光光谱测厚仪 涂镀层测厚
应用领域:广泛应用于线路板、引线框架及电子元器件接插件检测、镀纯金、k金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析、手表、精密仪表制造行业、
钕铁硼磁铁上的ni/cu/ni/fendb、汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测、卫浴产品、装饰把手上的cr/ni/cu/cuzn(abs)、电镀液的金属阳离子检测。
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